隨著現(xiàn)代社會的飛速發(fā)展，我們對電子設(shè)備的依賴與日俱增.現(xiàn)代電腦越來越多的采用低功率邏輯芯片，由于MOS的電介質(zhì)擊穿和雙極反向結(jié)電流的限制，使這些邏輯芯片對ESD非常敏感。大多數(shù)USB集成電路都是以CMOS工藝為基礎(chǔ)來設(shè)計和制造的，這導(dǎo)致它們對ESD造成的損害也很敏感，另外，USB端口是熱插拔系統(tǒng)，極易受到由用戶或空氣放電造成的ESD影響。用戶在插拔任何USB外設(shè)時都可能產(chǎn)生ESD。在距離導(dǎo)電面的幾英寸的位置可產(chǎn)生空氣放電。靜電可以損害USB接口，造成USB集成電路故障，最糟糕的是會在電子系統(tǒng)中產(chǎn)生數(shù)據(jù)位重影。這些損害和故障造成電子

在許多電子產(chǎn)品中、相關(guān)的安全規(guī)范、越來越受到重視、例如 ESD, EMI 等測試規(guī)范, 其中原因 , 除了使用者對電子產(chǎn)品質(zhì)量的要求外、隨著接口的升級和多樣化、消費(fèi)者使用的方式和習(xí)慣也在改變。例如：一臺筆記型計算機(jī), 有數(shù)個 USB 接口, 可以同時接上數(shù)種外接式電子產(chǎn)品、硬盤、隨身碟、甚至備用電池等. 使用者在使用上、隨時在筆記型計算機(jī)運(yùn)作狀態(tài)下、進(jìn)行插拔、稱做”熱插拔” ,” Hot plug”�！　≡跓岵灏沃校�由于接口端的訊號線（如USB線）已經(jīng)帶電，本身就像是個帶電的大電容會在接觸機(jī)器時放電。這種現(xiàn)象等同于靜電放電效應(yīng)（有時更