隨著現(xiàn)代社會的飛速發(fā)展,我們對電子設(shè)備的依賴與日俱增.現(xiàn)代電腦越來越多的采用低功率邏輯芯片,由于MOS的電介質(zhì)擊穿和雙極反向結(jié)電流的限制,使這些邏輯芯片對ESD非常敏感。大多數(shù)USB集成電路都是以CMOS工藝為基礎(chǔ)來設(shè)計和制造的,這導(dǎo)致它們對ESD造成的損害也很敏感,另外,USB端口是熱插拔系統(tǒng),極易受到由用戶或空氣放電造成的ESD影響。用戶在插拔任何USB外設(shè)時都可能產(chǎn)生ESD。在距離導(dǎo)電面的幾英寸的位置可產(chǎn)生空氣放電。靜電可以損害USB接口,造成USB集成電路故障,最糟糕的是會在電子系統(tǒng)中產(chǎn)生數(shù)據(jù)位重影。這些損害和故障造成電子